T0312—2005粗集料針片狀顆粒含量試驗( 卡尺法)

1  適用范圍

1.1  本方法適用于卡尺法測定粗集料的針片狀顆粒含量。

1.2  本方法測定的針片狀顆粒，是指用最大長(cháng)度與最小厚度之比大于3的顆粒。當采

用其他比例時(shí)，應在試驗報告中注明。

1.3  本方法主要適合于瀝青混合料、無(wú)結合料粒料材料和無(wú)機穩定材料用粗集料針片

狀顆粒含量測定。

2  儀具與材料

2.1  試驗篩：根據集料粒級選用不同孔徑的方孔篩，并滿(mǎn)足T0302  中2 . 1要求。

2.2   卡尺：可采用常規游標卡尺，精密為0 . 1mm 。也可選用固定比例卡尺，如

圖 T0312-1 中用專(zhuān)用游標卡尺或其他規定比例卡尺，L/E=3

2.3  天平：感量不大于稱(chēng)量質(zhì)量的0.1%。

3  試驗準備

將樣品用4.75mm試驗篩充分過(guò)篩，取篩上顆?？s分至表T0312-1 要求質(zhì)量的試樣

兩份，且每份試樣不少于100顆，烘干或室內風(fēng)干。

表 T0312-1  粗集料針片狀顆粒試驗的試樣質(zhì)量

4  試驗步驟

4.1  取一份試樣稱(chēng)取質(zhì)量(m?)。

4.2  將試樣平攤于試驗臺上，用目測直接挑出接近立方體的顆粒。

4.3 按 圖T0312-2  所示，將疑似針片狀顆粒平放在桌面上成一穩定的狀態(tài)。平面圖 中垂直與顆粒長(cháng)度方向的兩個(gè)切割顆粒表面的平行平面之間最大距離為顆粒長(cháng)度L; 垂 直與寬度方向的兩個(gè)切割顆粒表面的平行平面之間最大距離為顆粒寬度 W;側面圖中垂 直與顆粒厚度方向的兩個(gè)切割顆粒表面的平行平面之間最大距離為顆粒厚度T 。各尺寸 滿(mǎn)足 L≥W≥T.

4.4    用游標卡尺測量顆粒的平面圖中輪廓長(cháng)度兒及側面圖中輪廓長(cháng)度T。 當 L/T≥3 時(shí)，判斷該顆粒為針片狀顆粒。

4.5 當采用固定比例卡尺時(shí)，調整比例卡尺，使比例卡尺L方向尺間隙正好與顆粒長(cháng) 度方向輪廓尺寸相等，固定卡尺；檢查顆粒厚度方向輪廓尺寸是否夠通過(guò)比例卡尺E 方 向尺間隙，如果能夠通過(guò)，則判定該顆粒為針片狀顆粒。

4.6 按照以上方法逐顆判定所有集料是否為針片狀顆粒。稱(chēng)取所有針片狀顆粒質(zhì)量 m?; 稱(chēng)取所有非鈦片狀顆粒質(zhì)量m?。

5  結果整理

式中：Q.a—— 試樣的針片狀顆粒含量(%)。

5.3  取兩份試樣的針片狀顆粒含量的算術(shù)平均值作為試驗結果，精確至0.1%。

5.4    若兩份試樣的針片狀顆粒含量之差超過(guò)平均值的20%,應追加一份試樣進(jìn)行試

驗，直接取三份試樣的針片狀顆粒含量的算術(shù)平均值作為試驗結果，精確至0.1%。